آزمون ریشه واحد برای داده های پنل:
تهیه و تنظیم: عبدالرسول خان احمدی
برای بررسی مانایی داده های پنل آزمون های زیر وجود دارد:
1. آزمون لوین لین و چاو (Levin, Lin and Chu) (LLC)
2. آزمون بریتونگ (Breitung)
3. آزمون ایم، پسران و شین (Im, Pesaran and Shin) (IPS)
4. فیشر با استفاده از آزمون دیکی فولر تعمیم یافته (Fisher – ADF)
5. فیشر با استفاده از آزمون فیلیپس – پرونی (Fisher – PP)
6. آزمون هادری (Hadri)
در به کار بردن آزمون های فوق دو روش محاسبه وجود دارد بعضی از آزمون ها به صورت ریشه مشترک[ common root )[1، 2، 6 )و بعضی از آزمون ها به صورت ریشه منفرد[Individual root)[3، 4، 5 )محاسبه می شوند.
در ریشه مشترک (common root) برآوردها بر اساس یک ساختار اتورگرسیو برای همه سری ها ساخته می شود و در ریشه منفرد (Individual root) ضرایب اتورگرسیو را برای هر سری به صورت جداگانه محاسبه می کنیم.
در روش ریشه منفرد (Individual root) کنترل بیشتری بر روش های محاسبه وجود دارد و جزئیات بیشتری در نتایج آزمون لحاظ می شود.
سوالات و نظرات خود را با ما در میان بگذارید.
مطالب مرتبط: